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测厚仪,膜厚测试仪,电镀膜厚仪

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半导体x荧光膜厚测试仪
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产品/服务: 浏览次数:253膜厚测试仪 
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更新日期: 2014-11-07  有效期至:长期有效
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详细信息
 半导体x荧光膜厚测试仪产品特点:
★ 能够测量无铅焊锡 配备了薄膜FP法,可以同时测量Sn-Ag,Sn-Bi,Sn-Cu等,无铅焊锡的镀层后与成份
★ 搭载中心搜索软件 通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置.
★ 拥有防冲功能
★ 搭载激光对焦系统
★ 搭载测试报告自动生成软件
★ 拥有自动测量软件以及中心搜索软件
博曼膜厚测试仪主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。无数次的专利发明,包括使用DCM自动对焦方法和透明的准值器,操作简单。不用调校.
博曼膜厚测试仪X-射线管的距离也可测量,操作人员只需要调校样品焦距便可以测量。
镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量,我公司是博曼(bowman)仪器的大陆代理商,专业销售:复合镀层测厚仪、X射线元素分析仪、线路板铜厚测量仪、合金分析仪、产品RoHS检测仪,镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量仪.
整体描述:
美国BOWMAN X-RAY 設備遵循 ASTM B568, DIN 50 987 和 ISO 3497 等國家和國際標準,主 要基於鍍層厚度測量和材料分析的 X-射線系統。採用全新數學計算方法,採用 新的 FP (Fundamental 
Parameter)強大的電腦功能 來進行鍍層厚度的計算,在加強的軟體功能之下,簡化了測量比較複雜鍍層的程式。
(1)、配置硬件革新:
   采用半导体接收器,分辨率较传统品牌比例接收品提高数倍,较传统X-RAY精确度提高了50%以上,   在测试薄金(Au)方面表现更为突出。
(2)、超常保固期:2年(24个月),较其它品牌整机延长一倍;
(3)、前沿的测量技术:所有产品均为美国原装进口,
       超低的售价:相对于其它品牌同档次的机型售价降低了50%
联系人:舒翠 136 0256 8074
电话:0755-29371655 
传真:0755-29371653  
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地址:深圳市宝安沙井北环大道鸿安大厦502 
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